技术爱好者马特・科尔(Matt Cole)主导的《MicroSD卡大调查》于2023年7月启动,通过大规模测试为消费者提供权威参考。科尔利用8台机器、近70个读卡器,日均写入101TB数据,累计生成超18PB测试数据,覆盖200余种MicroSD卡,其中51张在测试中损坏。报告以直观图表呈现真伪、性能及耐久性结果,帮助用户甄别优质产品。
调查发现,部分厂商存在"假闪存"问题,标称容量与实际严重不符,甚至知名品牌也有"缩水闪存"现象。性能测试涵盖顺序I/O和随机I/O数据,并验证速度等级标志准确性。耐久性测试显示,优质卡平均可承受3166次读写周期,而劣质卡最低仅27次,联想品牌卡表现垫底。
科尔推荐金士顿Canvas Go! Plus 64GB为综合性能最佳产品,实际容量62.2GB,PNY、闪迪等品牌亦有型号入围前五。报告还公开了测试设备与方法细节,包括温度监测数据。